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* Wavefront Analyzer (파면분석기)

Feature & Specification
- 실험실습용(또는 연구용) 파면분석기이며, 파면광학를 가시적으로 이해하는 데 유용한 장비임
- 파면수차 정밀도(Tilt 항 제외. LED 사용) : < Wavelength/100
- 파면수차 정밀도(Tilt 항 포함. LED 사용) : < Wavelength/50
- Zernike 항 : 최대 35 (사용자가 mode 선택 가능)
- 광점 문턱값 : 사용자가 지정 가능
- 수차계수, Field-independent 3rd. order aberration, P-V, RMS aberration, S/R 값
- 파면지형도, 점퍼짐함수 도표
- Microlens array Pitch 간격 : 0.5 mm
- Microlens array 초점거리 : 20 mm (830 nm 기준)
- USB 2.0 COMS 카메라이므로 설치와 이동 수월
- 카메라 분해능 : 1280x1024
- 카메라 촬영속도 : 최대 15 fps
- 카메라 노출시간 : 1/10000 - 30 (s)
- 데이터 및 계산결과 인쇄 가능